截止至目前，中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟已成功发布团体标准共19项，第七批团体标准正在征集中，所制定团体标准有机会进一步推荐为国家标准，欢迎各单位积极参与！
中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟作为国家标准化管理委员会第二批团体标准试点单位，同时也作为中关村国家自主创新示范区第二批标准化试点单位，联盟团体标准的制订工作已进入常态化发展阶段。
宽禁带联盟将借助国际半导体产业协会（SEMI）和中关村标准化协会两大平台，为联盟会员提供团体标准制订服务，同时充分发挥联盟标准化委员会的作用，实施标准化战略，加强标准化对外合作与交流，推进宽禁带团体标准国际化。
标准下载：

T_IAWBS 001-2021（代替T_IAWBS 001-2017）碳化硅单晶.pdf

T_IAWBS 002-2017 碳化硅外延片表面缺陷测试方法.pdf

T_IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法.pdf

T_IAWBS 004-2021（代替T_IAWBS 004-2017）-电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用.pdf

T_IAWBS 005-2024 （代替T_IAWBS 005-2018） 6~8英寸碳化硅单晶抛光片.pdf

T IAWBS 006-2022 （代替 T IAWBS 006-2018）碳化硅混合模块产品测试方法.pdf

T_IAWBS 007-2018 4H碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法.pdf

T_IAWBS 008-2019 SiC晶片的残余应力检测方法.pdf

T_IAWBS 009-2019 功率半导体器件稳态湿热高压偏置试验.pdf

T_IAWBS 010-2019 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法.pdf

T_IAWBS 011-2019 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法-非接触涡流法.pdf

T_IAWBS 012-2019 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法-共焦点微分干涉光学法.pdf

T_IAWBS 013-2019 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法.pdf

T_IAWBS-014-2021 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法.pdf

T_IAWBS-015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法.pdf

T-IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法.pdf

T IAWBS 017-2022 金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法.pdf

T IAWBS 018-2022 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法.pdf

T_IAWBS 019-2023 半导体设备前端模块.pdf

T_IAWBS 020-2024《碳化硅外延层深能级缺陷的测试 瞬态电容法》.pdf

T_IAWBS021-2024《碳化硅晶片边缘轮廓检验方法》.pdf


路过
雷人
握手
鲜花
鸡蛋
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